挑選適合自已領(lǐng)域的測厚儀務(wù)必要考慮的因素有哪些地方

選擇測厚儀的考慮因素

涂鍍層測厚儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型:

1.磁性測厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量.導(dǎo)磁材料一般為:鋼、鐵、銀、鎳.此種方法測量精度高,CM8856涂層測厚儀

2.渦流測厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度高，CM8856涂層測厚儀。

3.超聲波測厚法:目前國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的,國外個別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但一般價格昂貴，測量精度也不高.

4.電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層.一般精度也不高.測量起來較其他幾種麻煩

5.放射測厚法:此種儀器價格非常昂貴(一般在10萬RMB以上),適用于一些特殊場合.

國內(nèi)目前使用較為普遍的是第1、2兩種方法。

常規(guī)涂層測厚儀的原理

對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國家和國際標(biāo)準中稱為覆層(coating)。

覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準的。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。

覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。

隨著技術(shù)的日益進步，特別是近年來引入微機技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用較廣泛的測厚儀器。

采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。

涂層測厚儀的應(yīng)用行業(yè)和分類

涂層測厚儀的應(yīng)用行業(yè)分布在電鍍、噴涂;管道防腐;鋁型材;鋼結(jié)構(gòu);印刷線路版、及絲網(wǎng)印刷等。

電鍍、噴涂：這個行業(yè)是使用我們儀器較多的，占每年銷量相當(dāng)大的比例，是我們主要用戶群體，需要精力去不斷挖掘。

管道防腐：主要以石化方面的用戶比較多，一般防腐層比較厚，LKTC-4測厚儀的用戶比較多;

鋁型材：今年以來受國家實施強制標(biāo)準，型材企業(yè)換發(fā)許可證的影響，該行業(yè)出現(xiàn)的好勢頭，主要測型材上面的氧化膜，據(jù)了解生產(chǎn)企業(yè)每少鍍一微米，一噸型材“節(jié)約"150元，非常可觀，因此國家強制要求配備包括涂層測厚儀在內(nèi)的相關(guān)檢測設(shè)備。此舉也給我們帶來了非常好的機會。這個機會也同樣受到競爭對手的關(guān)注，他們較大限度的調(diào)低了價格，而且采取鋪貨等多種方式迅速在此行業(yè)展開攻勢.

鋼結(jié)構(gòu)：對于我們的產(chǎn)品這類企業(yè)也可以單獨劃為一個行業(yè)。涂層測厚儀在此行業(yè)也確實有很大的應(yīng)用.

印刷線路版、及絲網(wǎng)印刷等：這類企業(yè)相對來講數(shù)特殊行業(yè)，購買量目前來看只是來自零星一些廠家。

涂層測厚儀的檢測原理

磁性測厚原理：當(dāng)測頭與覆層接觸時，測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可計算覆蓋層的厚度。

渦流測厚原理：利用高頻交電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場，當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對測頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。

根據(jù)涂層測厚儀的檢測原理：可以分磁性涂層測厚儀，即是被測量的底材是帶有磁性的，如鋼，鐵等，還有一種顧名思義就是非磁性涂層測厚儀，也叫渦流測厚儀，如底材是鋁。還有一種就是雙功能涂層測厚儀，就是說他的底材不管是鐵或者是鋁，都是可以自動識別的。客戶可以根據(jù)自己的測量需求來選擇。